如何理解芯片設(shè)計中的設(shè)計規(guī)則檢查（DRC）

老虎說芯|Tiger Chip|

2025-02-27 16:43:55 887

設(shè)計規(guī)則檢查（Design Rule Check，簡稱DRC）是芯片設(shè)計中的一個關(guān)鍵步驟，旨在確保電路設(shè)計的物理布局符合制造工藝的要求。可以把它類比為建筑設(shè)計中的檢查流程，確保建筑圖紙中的所有尺寸和結(jié)構(gòu)符合建筑標(biāo)準(zhǔn)，否則建造出來的建筑可能會有安全隱患或不符合使用要求。類似地，DRC 就是對芯片設(shè)計的物理版圖進(jìn)行檢查，確保其符合生產(chǎn)廠商的工藝規(guī)則。

1. DRC的作用：

DRC 的主要作用是驗(yàn)證芯片版圖中的各種物理設(shè)計是否符合制造過程中的工藝限制。芯片制造涉及微小的尺寸和精密的制造工藝，如果設(shè)計不符合這些規(guī)則，可能會導(dǎo)致芯片在生產(chǎn)過程中無法正確制造，甚至無法正常工作。

2. DRC的工作原理：

DRC 會對芯片設(shè)計中的每個物理元素（如線路、元器件、接觸點(diǎn)等）進(jìn)行檢查，確保它們的尺寸、間距和布局符合以下要求：

線路寬度：芯片上的電線（連線）不能太窄，必須達(dá)到制造工藝要求的最小寬度。如果過窄，電流可能會不穩(wěn)定，甚至導(dǎo)致電路短路。
線路間距：電路中的不同線路之間必須有足夠的間距，以避免它們之間發(fā)生短路或干擾。間距過小可能導(dǎo)致信號干擾，影響芯片功能。
過孔和接觸點(diǎn)：在不同層次之間需要通過過孔連接電路，過孔的尺寸和位置也必須符合規(guī)則。接觸點(diǎn)（例如電源和地線的接觸點(diǎn)）也必須符合最小尺寸和間距要求。
層間對齊：芯片設(shè)計有多個層，每層都要有明確的對齊規(guī)則。DRC 會檢查這些層是否正確對齊，確保信號能準(zhǔn)確通過每一層。

3. DRC檢查的具體步驟：

規(guī)則設(shè)置：設(shè)計工程師需要根據(jù)所使用的制造工藝來設(shè)置DRC規(guī)則。例如，不同的工藝（如14nm、7nm工藝）有不同的規(guī)則。
規(guī)則應(yīng)用：DRC 工具會自動將這些規(guī)則應(yīng)用到芯片的版圖設(shè)計中，逐一檢查每個物理元素是否符合規(guī)定。
檢查報告：如果版圖設(shè)計存在違反規(guī)則的地方，DRC 工具會生成一個報告，指出哪些地方存在問題，并給出解決方案。這些問題可能是某條線路太細(xì)、兩條線路間距太小，或者過孔的位置不正確等。

4. DRC的優(yōu)化：

通過 DRC 檢查，設(shè)計工程師可以發(fā)現(xiàn)并修復(fù)設(shè)計中的問題，確保版圖能夠順利通過制造環(huán)節(jié)。這不僅能避免生產(chǎn)中的錯誤，還能提高芯片的可靠性和性能。

優(yōu)化版圖：設(shè)計師可以根據(jù) DRC 提供的反饋，調(diào)整電路的布局、尺寸、間距等，使設(shè)計符合工藝規(guī)則。
減少制造失敗：DRC 可以有效避免制造過程中的故障，降低返工率，節(jié)省時間和成本。

5. DRC與其他檢查的關(guān)系：

除了 DRC，芯片設(shè)計中還會進(jìn)行其他類型的檢查，如：

LVS（Layout Versus Schematics）一致性檢查：檢查版圖設(shè)計是否與原理圖一致，確保電路功能沒有錯誤。
STA（Static Timing Analysis）靜態(tài)時序分析：分析電路中的信號傳輸延遲，確保時序滿足要求。
后仿驗(yàn)證：通過仿真驗(yàn)證電路在實(shí)際工作中的表現(xiàn)。

6. DRC的重要性：

DRC 是芯片設(shè)計中的必要步驟，它可以有效地保證芯片設(shè)計的可靠性和制造可行性。通過 DRC，設(shè)計工程師能夠在早期發(fā)現(xiàn)問題，避免由于設(shè)計錯誤導(dǎo)致的生產(chǎn)失敗，減少生產(chǎn)成本，提高產(chǎn)品質(zhì)量。沒有 DRC 檢查，芯片設(shè)計很可能在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)嚴(yán)重問題，甚至無法完成制造。

總結(jié)：DRC（設(shè)計規(guī)則檢查）是芯片設(shè)計中的一項重要步驟，確保設(shè)計符合制造工藝的限制，避免因不合規(guī)設(shè)計而導(dǎo)致生產(chǎn)失敗。通過 DRC 工具，設(shè)計師能夠自動檢查版圖中的尺寸、間距、過孔等是否符合要求，確保芯片的穩(wěn)定性和可靠性。在現(xiàn)代集成電路設(shè)計中，DRC 是芯片成功制造和高效生產(chǎn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。

免責(zé)聲明：本文采摘自“老虎說芯”，本文僅代表作者個人觀點(diǎn)，不代表薩科微及行業(yè)觀點(diǎn)，只為轉(zhuǎn)載與分享，支持保護(hù)知識產(chǎn)權(quán)，轉(zhuǎn)載請注明原出處及作者，如有侵權(quán)請聯(lián)系我們刪除。

上一篇：: FAB廠的新項目立項（以90納米技術(shù)節(jié)點(diǎn)為例）

下一篇：: 數(shù)字芯片設(shè)計中為什么用于仿真和性能評估的算法不一樣？

如何理解芯片設(shè)計中的設(shè)計規(guī)則檢查（DRC）

客服QQ2635709730

客服QQ
2635709730